光纤阵列中多通道端面高度不一致会导致插入损耗不均，影响整体通信性能。立仪通过多点非接触式测量方案，对光纤阵列端 […]

屏幕翘曲会导致贴合不良、亮暗不均等问题。立仪通过非接触式光学测量方案，对屏幕整体平整度和翘曲情况进行检测，提升 […]

锂电池外壳尺寸精度不达标，可能导致装配不良，进而影响电池性能和安全性。立仪通过精密3D测量技术，提供了高效的锂 […]

液晶显示屏表面均匀性差会导致显示效果不一致，影响用户体验。立仪通过高精度测量系统，精准检测液晶显示屏的表面均匀 […]

电池隔膜厚度直接关系到电池安全性与一致性。立仪通过高精度膜厚测量技术，实现对隔膜厚度的高精度非接触测量。

立仪采用光谱共焦技术，对胶线高度变化进行高速扫描，识别异常突变区域，实现缺陷检测。

立仪通过伟德平台推荐电话对轮毂表面进行轮廓扫描，实现高度与形貌检测。

立仪采用光学膜厚测量技术，对铜箔及电镀层进行精密厚度测量。

光模块内部存在多级精密结构，其高度差直接影响光路对准精度与模块性能。立仪采用非接触式位移测量方案，对光模块关键 […]

3C 产品中大量金属结构件需要保证高度与平面度一致性。立仪通过非接触式光学测量方案，对金属结构件进行稳定检测， […]

锂电池电极表面缺陷会影响电池的内阻和放电性能。立仪利用光谱共焦技术，对电池电极表面进行高分辨率缺陷检测，确保电 […]

触摸屏模组厚度不均匀会导致触摸不灵敏或者显示不均匀。立仪通过高精度厚度测量技术，确保触摸屏模组的厚度均匀，提升 […]

涂布起始与结束区域易出现膜厚不稳定。立仪采用高精度膜厚测量技术，对局部区域进行高分辨率膜厚测量，辅助工艺优化。

立仪采用光谱共焦，对密封胶涂覆区域进行多点同步测量，获取高度分布曲线。

立仪通过非接触式厚度测量方案，对玻璃上下表面进行高精度测量，实现在线厚度实时监控。

立仪采用光学膜厚测量技术，对阻焊油墨及功能涂层进行非接触膜厚测量。

光模块批量装配后，整体高度偏差会影响插拔兼容性与系统集成。立仪通过非接触式高度测量方案，实现对光模块整体高度的 […]

3C 产品中微小零件尺寸小、精度要求高，传统测量难以满足需求。立仪采用高分辨率非接触测量方案，实现对微小结构尺 […]

锂电池单体尺寸和形状不合格会影响电池的组装与安全性。立仪通过3D轮廓扫描技术，提供高精度的锂电池单体尺寸和形状 […]

OLED显示屏膜厚偏差大可能导致显示效果差或寿命缩短，传统膜厚测量无法适应生产速度。立仪采用在线膜厚检测技术， […]

立仪利用位移传感器对薄膜表面进行高速扫描，通过高度突变识别局部厚度缺陷。

立仪通过光谱共焦技术对关键位置胶点高度进行精确测量，用于工艺调节与质量判定。

立仪使用光谱共焦技术，对玻璃表面进行全幅扫描，获取高度分布数据，量化平整度与翘曲度。

立仪采用光谱共焦技术，可对孔口及孔内进行局部扫描，识别毛刺与异常结构。